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新着情報 NEWS
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2024.09.27
ICソケット 技術情報
ICソケット 技術情報に「ICソケットの表面実装方式の 端子形状、PKG種類や型について解説」を追加しました。
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2024.08.27
ICソケット 技術情報
ICソケット 技術情報に「温度サイクル試験 TCT (Temperature Cycling Test)の 特徴について解説」を追加しました。
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2024.07.1
ICソケット 技術情報
ICソケット 技術情報に「高温高湿バイアス試験THB(temperature humidity bias)の 特徴と仕組みについて解説」を追加しました。
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2024.07.1
ICソケット 技術情報
ICソケット 技術情報に「高加速寿命試験 HAST(High Accelerated Stress Test)の特徴と仕組みについて解説」を追加しました。
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2024.05.1
ソリューション
ソリューションに「ヒートパイプ付きテストソケット」を追加しました。
最新のソリューション solutions
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高電圧（10000V）向け絶縁検査用ソケット
高電圧向けテストソケットは10000V対応、大ストロークのプレス＆プローブピン開発済み。多様な電流用接触子も提供、カスタムソリューション可能。
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IGBT用テストソケット
AC・DCテスト用大電流端子による安定した接触性能（1000A）。絶縁検査用プレスコンタクトによる接触痕の低減と高耐久性を実現
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システムレベルテスト向け高周波ソケット
ハウジングにめっきをすることでグランドを強化し、良好な高周波特性を実現！
動作速度PAM4 Serdes 112Gbpsに対応できる製品です。 -
多ピン対応ソリューション
安定した接触性と高寿命化を実現。
一体化バネによる高電流対応が可能。 -
板バネケルビンコンタクト
表面圧接式プレコンタクトピンによる、安定した接触性と高寿命化を実現。
一体化バネによる高電流対応が可能。 -
QFP/SOPグランドピン付きオープントップソケット
挟み込み構造（2点接触）による安定した接触性能を実現。
グランドピンによる導通検査と放熱ピンによる高発熱PKGへの対応が可能 -
スプリングプローブピン
独自の自社設計技術により確実に内部短絡する低抵抗を実現。（Avg.50mΩ以下）
要求仕様に合わせた最適ソケットを設計・提案いたします。 -
カーリング コンタクトシリーズ
プローブピンと同等の性能を安価に実現
大型化に伴うPKGの反りに対応可能なロングストロークピン