バーンインソケット テストソケットで各種デバイスの製品評価・電気的特性・信頼性試験における課題を解決

ソリューション

QFP/SOPグランドピン付きオープントップソケット

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  • 挟み込み構造(2点接触)による安定した接触性能
  • グランドピンによる導通検査と放熱ピンによる高発熱PKGへの対応が可能

こちらのソケットはQFP/SOPグランドピン付きオープントップソケットという製品で、

特徴として挟み込み構造による安定した接触性能を持つ2ポイントオープントップソケットにグランドピンを取り付けていることが挙げられます。このグランドピンは、馬蹄ピンを用いた導通検査用と、放熱ピンを用いたPKGの発熱防止用を準備しております。

構造としてはカバー動作と連動してグランドピンが下がり、PKGが着座した後にリードにコンタクトピンが接触し、その後グランドピンがPKG裏面パッドに接触するため、PKGリードの変形を防止するという構造となっております。

この2点接触とグランドピンという構成により安定した接触性能で、かつ導通検査と放熱ピンによる高発熱PKGへの対応を実現しております。

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