バーンインソケット テストソケットで各種デバイスの製品評価・電気的特性・信頼性試験における課題を解決

ソリューション

IGBT用テストソケット

igbtsocket

  • AC・DCテスト用大電流端子によるによる安定した接触性能(1000A)。絶縁検査用プレスコンタクトによる接触痕の低減と高耐久性を実現

我々は、IGBTのAC・DCテストに適したソケットとして、大電流にも対応できる1000Aの接触子を開発しました。この接触子は、大きな断面積を持つことで発熱を防ぎ、複数の独立可動接点を持つことで安定した接触性能を確保しています。

絶縁検査用には、ハンドラーのバラつきを吸収する能力を持つ大きなストロークのプレスコンタクトピンとプローブピンを開発しました。これらのピンは、テスト中のさまざまな状況に対応するためのものです。

さらに、我々は他の電流にも対応できる接触子を数多く用意しています。それぞれのテスト要件や状況に最適な接触子を選択するための幅広い選択肢を提供しています。

私たちはお客様のニーズに応じて最適なソリューションを提供することを目指しています。お問い合わせやご相談はいつでもお気軽にどうぞ。熟練のエンジニアがあなたの問題解決をサポートします。

SOLUTION EXAMPLES

  • すべての
    ソリューション
  • アプリケーション
    から選ぶ
  • デバイスから選ぶ
  • PKGから選ぶ
  • 困りごとから選ぶ

発熱のソリューション事例

ソリューション一覧へ戻る