バーンインソケット テストソケットで各種デバイスの製品評価・電気的特性・信頼性試験における課題を解決
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(株)エンプラス半導体機器
バーンインソケット・テストソケット お問い合わせはこちら
既存設備でより多ピンのソケットが利用可能 センサーデバイスの試験歩留まり改善
挟み込み構造(2点接触)による安定した接触性能 PKGが挿入しやすい両開き構造
他の冷却方法と比較し、より高い冷却効率で熱暴走の制御機能が付いたシステム向け
簡単操作で多ピンPKGに対する安定した押圧を実現 操作性向上を追求。
大型PKG用ソケットの大幅なコストダウンを実現 現場でのソケット交換が容易で大電流対応が可能