バーンインソケット テストソケットで各種デバイスの製品評価・電気的特性・信頼性試験における課題を解決

ソリューション

低接圧ピン

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  • 既存設備でより多ピンのソケットが利用可能
  • センサーデバイスの試験歩留まり改善

こちらのコンタクトピンは低接圧ピンという製品です。
電子機器の多機能化に伴うPKGの大型化及び多ピン化の流れに対して、ATEの押切力はそのままでより多ピンに対応するために、
独自の先端形状及びプローブピン内部構造により、接触性能を維持したまま接触力を下げることを実現しました。

また、ピンの接触力を下げることにより、イメージセンサのようなPKG上面を押さえることのできないデバイスで、
ピンの荷重が原因となって起こりえるPKG中央部の反りを予防することが可能です。

多ピン化による設備追加投資の必要性をなくし、PKGの反りが原因の歩留まり低下によるタイムロスや固定費の削減につながる、コストメリットの大きなソリューションです。

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多ピン・特殊PKG対応ソリューションのソリューション事例

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