バーンインソケット テストソケットで各種デバイスの製品評価・電気的特性・信頼性試験における課題を解決

ソリューション

カプセルコンタクト

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  • 短長プローブピン構造(全長1.5mm)により、良好な高周波特性を実現。
  • 高速伝送・低電圧品に最適

このソケットは、高周波対応のカプセルコンタクトソケットです。ストローク量を大きく取ることで、テスト機器の縦方向誤差を吸収しより安定したコンタクトを実現すると同時に、短長ピンによる良好なインサーションロス(インサーションロス値:30GHz@S21 -1dB)、および良好なリターンロス(30GHz@S11 -10dB)が得られることが特徴です。

従来品では測定ができなかった30GHzの信号も測定が可能となります。

上記の2つの特長により本製品は良好な高周波特性・高速伝送を実現しております。
高周波に対応可能なコンタクトソケットをお求めの方は本製品をご利用ください

※インサーション・ロス・・・「挿入損失」とも呼ばれ、接触抵抗を表す。高周波においては、接点が閉じているときに、接点間で信号の損失が発生し、この信号の損失の程度をインサーション・ロスといい、dB(デシベル)を用いられる。インサーション・ロスは値が小さいほど損失が少なく、よい特性を示す。

※リターンロス・・・「反射損失」とも呼ばれる。 インピーダンスマッチングができていない電気的な不連続点では、高周波信号の反射が起こって信号が失われる。 伝送する進行波と反射波の比をdB(デシベル)で表したものがリターンロスとなる。

 

    

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