ICソケット・技術情報

基礎知識

• 2024.09.27

  ICソケットの表面実装方式の 端子形状、PKG種類や型について解説

• 2024.08.27

  温度サイクル試験 TCT (Temperature Cycling Test)の 特徴について解説

• 2024.07.1

  高温高湿バイアス試験THB(temperature humidity bias)の 特徴と仕組みについて解説

• 2024.07.1

  高加速寿命試験 HAST(High Accelerated Stress Test)の特徴と仕組みについて解説

• 2023.03.15

  ハイパワー・高電流・高周波対応　最新ソリューションのご紹介

• 2022.11.17

  ICソケットにおける1万を超える多ピンソリューションのご紹介

• 2022.07.29

  ICソケットにおける歩留まり課題とその対策

• 2022.04.13

  ICソケットにおける高周波課題とその対策

• 2022.02.8

  ICソケットにおける大電流課題とその対策

• 2022.01.18

  ICソケットにおける発熱課題とその対策

• 2021.05.18

  ICソケットとは

テスト

• 2023.03.15

  ハイパワー・高電流・高周波対応　最新ソリューションのご紹介

• 2022.11.17

  ICソケットにおける1万を超える多ピンソリューションのご紹介

• 2022.07.29

  ICソケットにおける歩留まり課題とその対策

バーンイン

• 2023.03.15

  ハイパワー・高電流・高周波対応　最新ソリューションのご紹介

• 2022.11.17

  ICソケットにおける1万を超える多ピンソリューションのご紹介

• 2022.07.29

  ICソケットにおける歩留まり課題とその対策

課題

• 2023.03.15

  ハイパワー・高電流・高周波対応　最新ソリューションのご紹介

• 2022.11.17

  ICソケットにおける1万を超える多ピンソリューションのご紹介

• 2022.07.29

  ICソケットにおける歩留まり課題とその対策

• 2022.04.13

  ICソケットにおける高周波課題とその対策

• 2022.02.8

  ICソケットにおける大電流課題とその対策